掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.9
掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.9
百檢價(jià)： 電議
支持報(bào)告類型： 電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告
支持報(bào)告語言： 中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告
報(bào)告蓋章資質(zhì)： CMA；CNAS
服務(wù)周期： 3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）
服務(wù)地區(qū)： 全國
檢測用途： 電商平臺(tái)入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項(xiàng)而定
掃碼咨詢立享優(yōu)惠
檢測標(biāo)準(zhǔn)
| 檢測項(xiàng)目 | 檢測標(biāo)準(zhǔn)號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 | GJB 4027A-2006 | 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.9 |
服務(wù)簡介
服務(wù)范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺(tái)、商超賣場入駐質(zhì)檢。
服務(wù)流程
合作機(jī)構(gòu)資質(zhì)
報(bào)告樣例
平臺(tái)優(yōu)勢
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