電源紋波抑制比S<Sub>rip</Sub> 半導體集成電路電壓調整器測試方法的基本原理 GB/T 4377—2018 4.3
電源紋波抑制比S<Sub>rip</Sub> 半導體集成電路電壓調整器測試方法的基本原理 GB/T 4377—2018 4.3
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定
限企業
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服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 電源紋波抑制比S<Sub>rip</Sub> | GB/T 4377-2018 | 半導體集成電路電壓調整器測試方法的基本原理 GB/T 4377—2018 4.3 | 能測：電壓：0～40V，電流：0～10A；不能測：電壓穩定系數S<SUB>VS</SUB>、電流穩定系數S<SUB>IS</SUB>、輸出電壓溫度系數S<SUB>T</SUB>、輸出電壓長期穩定性S<SUB>t </SUB>、輸出噪聲電壓V<SUB>NO</SUB>、短路電流I<SUB>OS</SUB>、輸出阻抗Z<SUB>O </SUB>、啟動電壓范圍V<SUB>OR</SUB>、熱調整率S<SUB> h </SUB>、最小輸入輸出壓差︱VI-VO︱<SUB>min</SUB>、輸入電壓變化瞬態響應時間t<SUB>1</SUB>、輸入電壓變化瞬態過沖電壓V<SUB>om（VI）</SUB>、負載電流變化瞬態響應時間t<SUB>2</SUB>、負載電流變化瞬態過沖電壓V<SUB>om（IO）</SUB>。 |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優勢
百檢介紹
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