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漏源擊穿電壓 <I>V</I><Sub>（BR）DSS</Sub> 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法3407

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百檢價： 電議

支持報告類型： 電子報告、紙質報告

支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質： CMA；CNAS

服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務地區： 全國

檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等

取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣

樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定

限企業
百檢網

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檢測項目：

G
漏源擊穿電壓 <I>V</I><Sub>（BR）DSS</Sub>
服務詳情

檢測標準

檢測項目 檢測標準號 檢測方法名 限制說明
漏源擊穿電壓 <I>V</I><Sub>（BR）DSS</Sub> GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法3407 只測：2mV～3000V

服務簡介


服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。


服務流程



合作機構資質



報告樣例



平臺優勢



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