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漏-源飽和電壓半導體器件分立器件第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586－1994 第 Ⅳ章 15

百檢價：電議

支持報告類型：電子報告、紙質(zhì)報告

支持報告語言：中文報告、英文報告、中英文報告

報告蓋章資質(zhì)： CMA；CNAS

服務(wù)周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）

服務(wù)地區(qū)：全國

檢測用途：電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進；產(chǎn)品認證；出口通關(guān)檢驗等

取樣方式：快遞郵寄或上門取樣

樣品要求：樣品數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定

限企業(yè)

掃碼咨詢立享優(yōu)惠

檢測項目：

服務(wù)詳情

檢測標準

檢測項目	檢測標準號	檢測方法名	限制說明
漏-源飽和電壓	GB/T 4586-1994	半導體器件分立器件第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586－1994 第 Ⅳ章 15

服務(wù)簡介

服務(wù)范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質(zhì)檢。

服務(wù)流程

合作機構(gòu)資質(zhì)

報告樣例

平臺優(yōu)勢

百檢介紹

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光學影像性能信息技術(shù) 場景記錄儀通用規(guī)范 GB/T 36481-2018 5.6,6.7

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可靠性信息技術(shù) 場景記錄儀通用規(guī)范 GB/T 36481-2018 5.13,6.14

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基本功能信息技術(shù) 場景記錄儀通用規(guī)范 GB/T 36481-2018 5.5,6.6

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外殼防護等級信息技術(shù) 場景記錄儀通用規(guī)范 GB/T 36481-2018 5.2,6.3

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外觀和結(jié)構(gòu) 信息技術(shù) 場景記錄儀通用規(guī)范 GB/T 36481-2018 5.1,6.2

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