輸入低電平電壓V<Sub>IL</Sub> 半導體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數測試方法的基本原理 GB/T 12843-1991 CMOS方法的第5.3條
輸入低電平電壓V<Sub>IL</Sub> 半導體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數測試方法的基本原理 GB/T 12843-1991 CMOS方法的第5.3條
百檢價： 電議
支持報告類型： 電子報告、紙質報告
支持報告語言： 中文報告、英文報告、中英文報告
報告蓋章資質： CMA；CNAS
服務周期： 3-10個工作日（特殊樣品除外）
服務地區： 全國
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產品質量改進；產品認證；出口通關檢驗等
取樣方式： 快遞郵寄或上門取樣
樣品要求： 樣品數量及規格等視檢測項而定
限企業
掃碼咨詢立享優惠
服務詳情
檢測標準
| 檢測項目 | 檢測標準號 | 檢測方法名 | 限制說明 |
|---|---|---|---|
| 輸入低電平電壓V<Sub>IL</Sub> | GB/T 12843-1991 | 半導體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數測試方法的基本原理 GB/T 12843-1991 CMOS方法的第5.3條 | 僅適用于特定用戶的特定產品；只測電壓：-1V～+6V電流： -200mA～+200mA最大1024通道； |
服務簡介
服務范圍：GB、GB/T、FZ/T品控檢測、各類電商平臺、商超賣場入駐質檢。
服務流程
合作機構資質
報告樣例
平臺優勢
百檢介紹
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