DINEN60749-25-2004 半導體器件機械和氣候試驗方法第25部分：溫度循環(huán)
作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-07-21
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第25部分：溫度循環(huán)
英文標準名稱：Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part25:Temperaturecycling
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
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