作者:百檢網 時間:2021-11-11 來源:互聯網
1、高分辨質譜: 靈敏度:109個原子/cm2 (對于無機固體材料相當于ppm級) 可檢測質量范圍:1-3000 amu 質量分辨率:原子:1000 (FWHM);有機物:2000 (FWHM) 質量準確度:0.56 mamu 2、微區成像: SIMS化學成像,空間分辨率:0.2 μm 二次電子成像 3、深度剖面: 深度分辨率:1.1 nm
飛行時間——二次離子質譜儀的工作原理是樣品表面被高能聚焦的一次離子轟擊時,發生層疊碰撞,引起中性粒子和帶正負電荷的二次離子發生濺射,再通過測量不同二次離子的飛行時間測量它們的質量/荷質比,對被轟擊的樣品的表面和內部元素分布特征進行分析。二次離子質譜可以分析包括氫在內的全部元素,并能給出同位素的信息、分析化合物組分和分子構成,靈敏度好、質量分辨率高、可測量的分子量范圍大,還可以進行微區成分成像和深度剖面分析。 可用于固體表面無機全元素和1-3000有機物質譜分析以及痕量元素/有機物定量,二次離子成像,痕量元素深度分布分析。
材料痕量元素/有機物分析與檢測,元素/有機物表面成像,薄膜成分深度分析
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1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
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4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
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8、檢測報告權威有效、中國通用;
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