諾達通:場發式電鏡,蔡司GeminiSEM 300?
?蔡司GeminiSEM 300掃描電鏡具有出色的探測效率,能夠實現亞納米分辨成像。具有高的表面細節信息靈敏度,對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性,在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像,提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。
GeminiSEM 300掃描電鏡具有出色的分辨率、更高的襯度和更大且無畸變的成像視野。得益于高效的信號采集系統和優異的分辨率性能,可實現快速、高質量、無畸變的大范圍成像;創新設計的高分辨率電子槍模式,為對磁性樣品、不導電樣品以及電子束敏感樣品的低電壓成像量身訂制解決方案;蔡司獨樹一幟的鏡筒內能量選擇背散射探測器,在低電壓下也可輕松地獲得高質量的樣品材料襯度圖像;鏡筒內Inlens二次電子探測器對要求苛刻的不導電樣品進行高靈敏度、高分辨成像。GeminiSEM 300掃描電鏡在低電壓下的高分辨率成像能力,在以下不導電樣品、電子束敏感樣品、獲取樣品*表面的真實形貌信息等應用領域中扮演著尤為重要的角色。Gemini的革新電子光學設計,應用高分辨率電子槍模式,縮小30%的出射電子束能量展寬,有效地降低像差,獲得更小的束斑,從而有效提高了在低電壓時的信號采集效率和圖像襯度
針對樣品的形貌,尺寸分析,膜層分析,EDS元素分析,(定性、定量、線分布、面分部)失效分析,金相分析等。廣泛的應用于化工,材料生物,醫學等領域
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