高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析JEM2100F
1. 獲得納米材料,金屬材料,陶瓷材料的微觀形貌,孔隙情況,樣品顆粒大小等;
2. 獲得材料的高分辨數(shù)據(jù),晶格條紋,獲取晶體學(xué)參數(shù);
3. 獲得材料衍射花紋,判斷材料晶體學(xué)參數(shù);
4. 得到材料EDS信號(hào),表征材料元素分布,半定量分析材料元素含量等,可進(jìn)行面掃,點(diǎn)掃,線掃等方式;
高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析主要技術(shù)指標(biāo):
1、點(diǎn)分辨率:0.25nm;線分辨率:0.102nm;STEM分辨率:0.20nm
2、加速電壓:80,100,160,200KV
3、傾斜角(X/Y):±42/±30°;
4、配備德國(guó)Bruker公司XFlash 5030T型X射線能譜儀
應(yīng)用范圍:
1.應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析;
2.各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測(cè);
3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測(cè)定;
4.復(fù)合材料界面特性的研究。
普通會(huì)員
北京泰克來(lái)爾科技有限公司
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材料化工相關(guān)檢測(cè)
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