X射線能在無(wú)損檢驗(yàn)技術(shù)中得到廣泛應(yīng)用的主要原因是：它能穿透可見(jiàn)光不能穿透的物質(zhì)；它在物質(zhì)中具有衰減作用和衰減規(guī)律；它能對(duì)某些物質(zhì)發(fā)生光化學(xué)作用、電離作用和熒光現(xiàn)象。而且這些作用都將隨著X射線強(qiáng)度的增加而增加。

　　X射線探傷是利用材料厚度不同對(duì)X射線吸收程度的差異，通過(guò)用X射線透視攝片法和工業(yè)電視實(shí)時(shí)成像，從軟片和成像上顯出材料、零部件及焊縫的內(nèi)部缺陷。如裂紋、縮孔、氣孔、夾渣、未溶合、未焊透等，確定位置和大小。根據(jù)觀察其缺陷的性質(zhì)、大小和部位來(lái)評(píng)定材料或制品的質(zhì)量，從而防止由于材料內(nèi)部缺陷、加工不良而引起的重大事故。

　　X射線探傷除照相法外，還有X射線熒光屏觀察法、電視觀察法。

　　1．X射線照相法

　　這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏，當(dāng)膠片被X射線照射而感光后，復(fù)經(jīng)顯影，即可顯現(xiàn)出不同的感光程度。若射線的強(qiáng)度越大，則膠片的感光越多，顯影后的黑度就越大。當(dāng)某處與周圍對(duì)比的黑度較大時(shí)，則可確認(rèn)存在缺陷。照相法的靈敏度高、適應(yīng)性強(qiáng)，同時(shí)膠片可長(zhǎng)期保存待查。但程序較多、費(fèi)時(shí)、成本較高。

　　2．X射線熒光屏觀察法

　　X射線透過(guò)被檢查物體后，把不同強(qiáng)度的射線，再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上，激發(fā)出不同強(qiáng)度的熒光而得到物體的影像。如果我們能直接從熒光屏上觀察缺陷影像，就稱為X射線熒光屏觀察法。

　　熒光屏觀察法與照相法的不同點(diǎn)：

　　熒光屏上所看到的缺陷影像是發(fā)亮的，而在底片上見(jiàn)到的缺陷影像是暗黑的；

　　前者不用暗室處理，因而暗室處理影響其影像質(zhì)量的因素不存在，但其它因素與照相法同；

　　熒光屏上的熒光物質(zhì)與照相法中增感屏上的熒光物質(zhì)不同，它要求這種物質(zhì)所發(fā)熒光對(duì)人的眼睛靈敏。

　　熒光屏觀察法能對(duì)工件連續(xù)檢查，并能迅速得出結(jié)果。因此能節(jié)省大量的軟片與工時(shí)，成本低。但是，熒光屏觀察法的靈敏度要低一些。由于它不能像照相法那樣把射線的能量積累起來(lái)，它只能檢查較薄的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的工件。

　　熒光屏觀察法所用的設(shè)備是X射線發(fā)生器及其控制設(shè)備；熒光觀察屏；觀察和記錄用的輔助沒(méi)備；防護(hù)及傳送設(shè)備等。 [2]

　　3．X射線電視觀察法

　　X射線照相法既費(fèi)工時(shí)，又不經(jīng)濟(jì)，不適宜于批量生產(chǎn)的工廠。然而，X射線熒光屏觀察法由于成象的光亮度差、靈敏度低，并且大多在熒光透視箱內(nèi)進(jìn)行，故也未廣泛采用。隨著光電微光技術(shù)的發(fā)展，微光象增強(qiáng)器和攝象管得到重視和廣泛應(yīng)用。

　　X射線電視觀察法的優(yōu)點(diǎn)是可以直接觀察副物體內(nèi)部在靜態(tài)和動(dòng)態(tài)下的情況，并能多次觀察；不需照相法那一套處理系統(tǒng)；可以流水作業(yè)；快速。

　　此法的不足之處是靈敏度比照相法低；圖象增強(qiáng)管接受輻射能量只達(dá)160kV左右，因而受到一定限制；由于泄露輻射的影響，檢測(cè)幾何形狀較為復(fù)雜的零件較為困難。