異物分析，是專門分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對(duì)表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品*常用的分析方法之一。
應(yīng)用范圍
針對(duì)產(chǎn)品上的表面污染物、析出物等異常物質(zhì)，如產(chǎn)品表面的顆粒物、油狀物、霧狀物、斑點(diǎn)等。
表面異物分析項(xiàng)目
1.有機(jī)異物分析
2.無(wú)機(jī)異物分析
3.未知異物分析
4.產(chǎn)品異常現(xiàn)象比對(duì)分析
主要分析方法
| 方法
| 應(yīng)用范圍
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| 紅外光譜法 FTIR
| 1.顯微FTIR， 僅需10um以上樣品即可測(cè)試 2.有機(jī)物成分分析 （400-4000cm-1）
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| 掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法 SEM/EDS
| 1.固體 2.元素分析/元素分布 （B-~U） /形貌觀察
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| 俄歇電子能譜分析儀法 AES
| *表面 （0-3nm） 分析設(shè)備
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| X射線電子光能譜分析法 XPS
| 1.更精密的元素分析 2.元素價(jià)態(tài)， 存在形式分析
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| 飛行時(shí)間?次離子質(zhì)譜分析法 TOF-SIMS
| ppm級(jí)別表面有機(jī)成分分析
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| 動(dòng)態(tài)?次離子質(zhì)譜分析法 D-SIMS
| ppb級(jí)表面及芯部成分分析
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| 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀分析法 GC-MS
| 1.固體/液體 2.易揮發(fā)組分測(cè)試
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分析步驟
1、表面觀察：主要采用光學(xué)顯微鏡觀察（OM）觀察異物在表面還是嵌入在基體材料內(nèi)。
2、異物物質(zhì)種類判斷：主要采用傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）、顯微紅外（M）判斷異物主要是有機(jī)物還是無(wú)機(jī)物。
3、有機(jī)物分析手段：可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。
4、無(wú)機(jī)物分析手段（主要是元素分析）：主要采用掃描電鏡能譜儀（SEM-EDS）等。
測(cè)試儀器
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400-101-7153
15201733840
