國家認(rèn)可

電子設(shè)備第三方檢測機(jī)構(gòu)：深圳百檢網(wǎng),是國內(nèi)知名的電子產(chǎn)品第三方檢測機(jī)構(gòu)，電子產(chǎn)品測試提供一站式電子產(chǎn)品檢驗(yàn)檢測解決方案，具CMA和CNAS資質(zhì)，您可信賴的第三方檢測機(jī)構(gòu).

一、GB/T2423有以下51個標(biāo)準(zhǔn)組成：

1GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫

2GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫

3GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

4GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

5GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊

6GB/T2423.6-1995電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞

7GB/T2423.7-1995電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)

8GB/T2423.8-1995電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落

9GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱

10GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(正弦)

11GB/T2423.11-1997電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動--一般要求

12GB/T2423.12-1997電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fda:寬頻帶隨機(jī)振動--高再現(xiàn)性

13GB/T2423.13-1997電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動中再現(xiàn)性

14GB/T2423.14-1997電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動低再現(xiàn)性

15GB/T2423.15-1995電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度

16GB/T2423.16-1999電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長霉

17GB/T2423.17-1993電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法

18GB/T2423.18-2000電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)--試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)

19GB/T2423.19-1981電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法

20GB/T2423.20-1981電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法

21GB/T2423.21-1991電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法

22GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化

23GB/T2423.23-1995電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Q:密封

24GB/T2423.24-1995電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射

25GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

26GB/T2423.26-1992電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)

27GB/T2423.27-1981電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法

28GB/T2423.28-1982電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)T:錫焊試驗(yàn)方法

29GB/T2423.29-1999電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度

30GB/T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

31GB/T2423.31-1985電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程傾斜和搖擺試驗(yàn)方法

32GB/T2423.32-1985電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法

33GB/T2423.33-1989電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法

34GB/T2423.34-1986電工電子產(chǎn)品檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法

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