作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2021-11-16 來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng)
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掃描電子顯微鏡-能譜儀SEM-EDS
? 儀器應(yīng)用:用于物質(zhì)的微區(qū)形貌觀察及尺寸測(cè)量。
? 服務(wù)項(xiàng)目:微區(qū)形貌觀察、微區(qū)能譜定性測(cè)試、包機(jī)服務(wù)
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透射電子顯微鏡-能譜儀TEM-EDS
? 儀器應(yīng)用:用于物質(zhì)的形貌/尺寸觀察、電子衍射圖片,二維晶格面、明/暗場(chǎng)圖片、元素分析(點(diǎn)掃、線掃、面掃)。
? 服務(wù)項(xiàng)目:微區(qū)形貌觀察、微區(qū)能譜定性測(cè)試
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原子力顯微鏡AFM
? 儀器應(yīng)用:對(duì)金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、有機(jī)物、高分子、生物體等樣品的表面在納米尺度下進(jìn)行觀測(cè)形貌及力學(xué)等物體特性測(cè)試。
? 服務(wù)項(xiàng)目:表面形貌測(cè)試、表面粗糙度測(cè)試等
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