作者:百檢網(wǎng) 時間:2021-11-22 來源:互聯(lián)網(wǎng)
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失效率試驗的方法,對電子元器件失效率所進(jìn)行的可靠性試驗,根據(jù)不同的試驗?zāi)康目煞譃閮煞N方法。
1、方法A——可靠性驗證試驗
如果主要目的是為了確定是否符合某種規(guī)定的失效率時,應(yīng)采用方法A。此時,生產(chǎn)廠的義務(wù)是在所要求的置信度下驗證產(chǎn)品是否符合所要求的失效率等級。由于生產(chǎn)廠同意提供某規(guī)定的失效率等級,所以,試驗的等級是按產(chǎn)品被鑒定的失效率來確定的。
2、方法B——可靠性測定試驗
如果主要目的是為了對產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行評價昌,應(yīng)采用方法B。此時,生產(chǎn)廠的義務(wù)是按照規(guī)定進(jìn)行試驗,并就試驗結(jié)果提出報告。試驗所確定的失效率與同類試驗結(jié)果相比較。試驗等級與所報告的失效率無關(guān)。
這兩種方法既適用于本質(zhì)上是連續(xù)生產(chǎn)的元器件的試驗,也適用于單批產(chǎn)品的試驗。
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