| IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通過*終國際標準版草案(FDIS) 階段,目前已正式公布。有關電子產品中特定有害物質測定的標準- IEC 62321,概述了電子產品的測試方法,以確定產品中的有害化學物質濃度低于歐盟有害物質限制指令(RoHS)法律中制定的有害化學物質濃度。如同以往,2008版的IEC 62321標準也經過了一段維護周期,現今再將規范的操作和先進的技術引入測試程序,以確保實驗的一致性和可靠度,滿足標準的制定。具體內容見下表: IEC?標準 | 范圍 | 62321-1 | 簡介和概述 | 62321-2 | 樣品的拆卸、拆解和機械拆分 | 62321-3-1 | 使用X射線熒光光譜儀對電子產品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進行篩選 | 62321-3-2 | 使用C-IC對聚合物和電子產品中的總溴進行篩選 | 62321-4 | 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞 | 62321-5 | 使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS確定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻,以及金屬中的鎘和鉛 |
2013版的*主要變化在于將文件拆分成一系列標準,以利標準維護,同時導入新的測試方法或儀器,例如 燃燒- 離子層析儀(C-IC) 和冷蒸汽原子熒光光譜儀(CV-AFS)。? 在完成上述系列標準之后,目前還有另外四份標準正處于不同草案編制階段;?PBB/PBDE (IEC 62321-6)、六價鉻(IEC 62321-7-1和-2) 以及鄰苯二甲酸酯(IEC 62321-8) 的測試方法。? 這些標準預計公布日期如下: ■ 2014年2月- IEC 62321-6 ■ 2014年4月- IEC 62321-7-1 ■ 2014年11月- IEC 62321-7-2 ■ 2015年3月- IEC 62321-8 |
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| CVC威凱建議電子產品制造商應盡早了解該修訂具體要求,及時采取措施保證既有產品與將來的新產品符合新標準的要求。 |
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