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光纖檢驗(yàn)報(bào)告

作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2022-08-08 來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng)

光纖測(cè)試包括二種,一種是單模光纖測(cè)試,另一種是多模光纖測(cè)試光纖檢測(cè)主要目的是保證系統(tǒng)連接的質(zhì)量,減少故障因素以及故障時(shí)找出光纖的故障點(diǎn)。

檢測(cè)方法


主要分為人工簡(jiǎn)易測(cè)量和精密儀器測(cè)量。

1、光纖系統(tǒng)的測(cè)試指標(biāo)

光纖線路的測(cè)試只要求測(cè)試一項(xiàng)結(jié)果──衰減:

· 衰減量<1.5dB,(1300nm)

· 衰減量<2.5dB,(850nm)

2、測(cè)試項(xiàng)目

· 連通性測(cè)試

· 全程衰減及SC連接頭衰減測(cè)試

3、具體測(cè)試方法

· 多模光纖水平子系統(tǒng)需要測(cè)試端的參數(shù);

沿一個(gè)方向在波長(zhǎng)850nm或1300nm處測(cè)試衰耗值

· 多模光纖主干系統(tǒng)需要測(cè)試的參數(shù);

沿一個(gè)方向在波長(zhǎng)850nm及1300nm處測(cè)試衰耗值

光纖測(cè)試方法


光纖的具體作用傳遞光信號(hào), 光信號(hào)可以作為光信息(數(shù)字和模擬信號(hào)均可)的有效載體。現(xiàn)在大量采用的是紅外區(qū)段光源作為數(shù)字信號(hào)的載體。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)光纖就是光信號(hào)的傳播路徑。光纖測(cè)試方法主要有以下四種方法。

1、連通性測(cè)試:連通性測(cè)試是*簡(jiǎn)單的測(cè)試方法,只需在光纖一端導(dǎo)入光線(如手電光),在光纖的另外一端看看是否有光閃即可。連通性測(cè)試的目的是為了確定光纖中是否存在斷點(diǎn)。在購(gòu)買(mǎi)光纜時(shí)都采用這種方法進(jìn)行。

2、端一端的損耗測(cè)試:端一端的損耗測(cè)試采取插入式測(cè)試方法,使用一臺(tái)功率測(cè)量?jī)x和一個(gè)光源,先將被測(cè)光纖的某個(gè)位置作為參考點(diǎn),測(cè)試出爹考功率值,然后再進(jìn)行端一端測(cè)試并記錄信號(hào)的增益值,兩者之差即為實(shí)際端到端的損耗值。用該值與FDDI標(biāo)準(zhǔn)值相比就可確定這段無(wú)繩的連接是否有效。

操作步驟分為兩步:**步是參考度量(P1)測(cè)試,測(cè)量從已知光源到直接相連的功率表之間的損耗值p1;第二步是實(shí)行度量(P2)測(cè)試,測(cè)量從發(fā)送器到接收器的損耗值P2.端到端功率損耗A是參考度量與實(shí)際度量的差值:A=P1-P2。

3、收發(fā)功率測(cè)試:收發(fā)功率測(cè)試是測(cè)定布線系統(tǒng)光纖鏈路的有效方法,使用的設(shè)備主要是光纖功率測(cè)試儀和一段跳接線。在實(shí)際應(yīng)用中,鏈路的兩端可能相距很遠(yuǎn),但只要測(cè)得發(fā)送端和接收端的光功率,即可判定光纖鏈路的狀況。具體操作過(guò)程如下。

在發(fā)送端將測(cè)試光纖取下,用跳接線取而代之,跳接線一端為原來(lái)的發(fā)送器,另一端為光功率測(cè)試儀,使光發(fā)送器工作,即可在光功率測(cè)試儀上測(cè)得發(fā)送端的光功率值。

在接收端,用跳接線取代原來(lái)的跳線,接上光功率測(cè)試儀,在發(fā)送端的光發(fā)送器工作的情況下,即可測(cè)得接收端的光功率值。發(fā)送端與接收端的光功率值之差,就是該光纖鏈路所產(chǎn)生的損耗。

4、反射損耗測(cè)試:反射損耗測(cè)試是光纖線路檢修非常有效的手段。它使用光纖時(shí)間區(qū)域反射儀(OTDR)來(lái)完成測(cè)試工作,基本原理就是利用導(dǎo)入光與反射光的時(shí)間差來(lái)測(cè)定距離,如此可以準(zhǔn)確判定故障的位置。雖然FDDI系統(tǒng)驗(yàn)收測(cè)試沒(méi)有要求測(cè)量光纜的長(zhǎng)度和部件損耗,但它也是非常有用的數(shù)據(jù)。

而OTDR將探測(cè)脈沖注入光纖,在反射光的基礎(chǔ)上估計(jì)光纖長(zhǎng)度。OTDR測(cè)試適用于故障定位,特別是用于確定光纜斷開(kāi)或損壞的位置。OTDR測(cè)試文檔對(duì)網(wǎng)絡(luò)診斷和網(wǎng)絡(luò)擴(kuò)展提供了重要數(shù)據(jù)。

光纖測(cè)試步驟


光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測(cè)試方法有三種。

1,折射近場(chǎng)法:折射近場(chǎng)法是多模光纖和單模光纖折射率分布測(cè)定的基準(zhǔn)試驗(yàn)方法(RTM),也是多模光纖尺寸參數(shù)測(cè)定的基準(zhǔn)試驗(yàn)方法和單模光纖尺寸參數(shù)測(cè)定的替代試驗(yàn)方法(ATM)。

折射近場(chǎng)測(cè)量是一種直接和精確的測(cè)量。它能直接測(cè)量光纖(纖芯和包層)橫截面折射率變化,具有高分辨率,經(jīng)定標(biāo)可給出折射率**值。由折射率剖面圖可確定多模光纖和單模光纖的幾何參數(shù)及多模光纖的*大理論數(shù)值孔徑。

2,橫向干涉法:橫向干涉法是折射率剖面和尺寸參數(shù)測(cè)定的替代試驗(yàn)方法(ATM)。橫向干涉法采用干涉顯微鏡,在垂直于光纖試樣軸線方向上照明試樣,產(chǎn)生干涉條紋,通過(guò)視頻檢測(cè)和計(jì)算機(jī)處理獲取折射率剖面。

3,近場(chǎng)光分布法 這種方法是多模光纖幾何尺寸測(cè)定的替代試驗(yàn)方法(ATM)和單模光纖幾何尺寸(除模場(chǎng)直徑)測(cè)定的基準(zhǔn)試驗(yàn)方法(RTM)。通過(guò)對(duì)被測(cè)光纖輸出端面上近場(chǎng)光分布進(jìn)行分析,確定光纖橫截面幾何尺寸參數(shù)。

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6、周期短,費(fèi)用低,服務(wù)周到;

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