作者:小強 時間:2022-09-28 來源:互聯(lián)網(wǎng)
電子元器件檢測標準細化、規(guī)范,電子電器產(chǎn)品檢測不僅有電子元器件,還有電器整機、零部件等。電子元器件是電子元件和小型的機器、儀器的組成部分,其本身常由若干零件構(gòu)成,可以在同類產(chǎn)品中。電子元器件檢測報告怎么做?有哪些項目及標準?今天百檢網(wǎng)就給大家介紹一下電子元器件檢測相關(guān)內(nèi)容。
如果您有電子元器件相關(guān)產(chǎn)品需要檢測,可依據(jù)BS EN 100012-1996等標準,對電子元器件進行機械沖擊、變頻振動等項目檢測(具體需要檢測哪些項目會有工程師與您對接溝通*終制定檢測方案)。
檢測標準
BS EN 100012-1996 電子元器件的質(zhì)量評估協(xié)調(diào)體系.基礎(chǔ)規(guī)范.X射線檢驗電子元件
BS QC 760001-1994 電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系.膜集成電路和混合集成電路.總規(guī)范.內(nèi)部視力檢驗要求
BS QC 790101-1992 電子元器件質(zhì)量評估協(xié)調(diào)體系.半導(dǎo)體器件.集成電路.不包括混合電路的半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范.不包括混合電路的半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范.不包括混合電路的半導(dǎo)體集成電路的內(nèi)目測檢驗
BS EN 117000-1992 電子元器件的質(zhì)量保證協(xié)調(diào)體系.總規(guī)范.經(jīng)質(zhì)量保證的半導(dǎo)體繼電器.一般數(shù)據(jù)和檢驗方法
BS CECC 00013-1985 電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系.基本規(guī)范:半導(dǎo)體小片的掃描電子顯微鏡檢驗
BS CECC 90000 Addendum No. 1-1983 電子元器件用質(zhì)量評估協(xié)調(diào)體系.一般規(guī)范:單塊集成電路.內(nèi)部目測檢驗
BS E9007-1975 電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系規(guī)范.基本規(guī)范.按屬性檢驗的取樣計劃及程序
檢測項目及目的:
1、機械沖擊:檢測光電子器件是否能適用在需經(jīng)受中等嚴酷程度沖擊的電子設(shè)備中。沖擊可能是裝卸、運輸或現(xiàn)場使用過程中突然受力或劇烈振動所產(chǎn)生的。
2、變頻振動:檢測在規(guī)范頻率范圍內(nèi)振動對光電子器件各部件的影響。
3、熱沖擊:檢測光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。
4、插拔耐久性:檢測光電子器件光纖連接器的插入和拔出,光功率、損耗和反射等參數(shù)是否滿足重復(fù)性要求。
5、存儲試驗:檢測光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運輸和儲存。
6、溫度循環(huán):檢測光電子器件承受*高溫度和*低溫度的能力,以及*高溫度和*低溫度交替變化對光電子器件的影響。
7、恒定濕熱:檢測密封和非密封光電子器件能否同時承受規(guī)定的溫度和濕度。
8、高溫壽命:檢測光電子器件高溫加速老化失效機理和工作壽命。
檢測方法
A、將兩表筆(不分正負)分別與電阻的兩端引腳相接即可測出實際電阻值。為了提高測量精度,應(yīng)根據(jù)被測電阻標稱值的大小來選擇量程。由于歐姆擋刻度的非線性關(guān)系,它的中間一段分度較為精細,因此應(yīng)使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范圍內(nèi),以使測量更準確。根據(jù)電阻誤差等級不同。讀數(shù)與標稱阻值之間分別允許有±5%、±10%或±20%的誤差。如不相符,超出誤差范圍,則說明該電阻值變值了。
B、注意:測試時,特別是在測幾十kΩ以上阻值的電阻時,手不要觸及表筆和電阻的導(dǎo)電部分;被檢測的電阻從電路中焊下來,至少要焊開一個頭,以免電路中的其他元件對測試產(chǎn)生影響,造成測量誤差;色環(huán)電阻的阻值雖然能以色環(huán)標志來確定,但在使用時建議還是用萬用表測試一下其實際阻值。
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