作者:百小檢 時間:2022-10-25 來源:互聯(lián)網(wǎng)
1.失效背景
客戶反饋其產(chǎn)品上所使用的直插式LED燈珠在客戶端測試過程中出現(xiàn)死燈和暗燈現(xiàn)象,經(jīng)初步排查,失效燈珠存在漏電現(xiàn)象,具體表現(xiàn)為反向漏電偏大。
2.主要分析過程簡述
在相同測試條件下(正向3V)測試正常樣品和失效樣品的半導(dǎo)體特性曲線,如圖2所示,樣品漏電現(xiàn)象得到確認;如圖3所示,對失效樣品進行鑲樣研磨,逐步去除樣品的PCB,并測試燈珠的半導(dǎo)體特性曲線,結(jié)果未發(fā)生明顯變化,該項測試證明失效與PCB板表面和內(nèi)部狀況(電遷移、離子殘留等)無關(guān),僅發(fā)生在燈珠部分;對失效樣品進行開封,去除封裝膠后,對LED芯片進行EMMI測試,測試結(jié)果顯示:漏電芯片負電*綁定點附近出現(xiàn)比較明顯的漏電發(fā)熱點,SEM照片顯示NG樣品出現(xiàn)綁定點過大情況,焊點已經(jīng)覆蓋了芯片正負*間的絕緣溝道,采用化學(xué)試劑去除NG樣品的焊點,芯片PN結(jié)與負*間的部分鈍化保護層已經(jīng)脫離,同時負*邊緣位置出現(xiàn)了一定程度的損傷。
1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務(wù),讓檢測更精準(zhǔn);
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用;
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7、擁有CMA、CNAS、CAL等權(quán)威資質(zhì);
8、檢測報告權(quán)威有效、中國通用;
上一篇《失效分析范圍》
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