標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5095.2503-2021
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-3部分：試驗25c：上升時間衰減
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：即將實施,發(fā)布于2021-03-09; 實施于2021-10-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2021-03-09
實施日期：2021-10-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：31.220.10
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：31.220.10
歸口單位：全國電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：四川華豐企業(yè)集團(tuán)有限公司;中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60512-25-3：2001。
采標(biāo)中文名稱:電子設(shè)備用連接器 試驗和測量 第25-3部分:試驗25c：上升時間衰減。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20121229-T-339 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-3部分：試驗25c：上升時間衰減; GB/T 5095.2502-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-2部分：試驗25b：衰減（插入損耗）; 20121234-T-339 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-2部分：試驗25b：衰減（插入損耗）; GB/T 5095.1-1997 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第1部分:總則; GB/T 5095.2501-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-1部分：試驗25a：串?dāng)_比; GB/T 5095.2504-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-4部分：試驗25d：傳輸時延; GB/T 5095.2505-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-5部分：試驗25e：回波損耗; 20121230-T-339 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-4部分：試驗25d：傳輸時延; 20121231-T-339 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-5部分：試驗25e：回波損耗; 20121228-T-339 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗規(guī)程及測量方法 第25-1部分：試驗25a：串?dāng)_比