標準號：GB/T 38532-2020
中文標準名稱：微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定
英文標準名稱：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
標準狀態：現行,發布于2020-03-06; 實施于2021-02-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2020-03-06
實施日期：2021-02-01
中國標準分類號：71.040.40
國際標準分類號：71.040.40
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
執行單位：全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：中國寶武鋼鐵集團有限公司;中國科學院上海硅酸鹽研究所;上海發電設備成套設計研究院
采標情況：本標準等同采用ISO國際標準：ISO 13067:2011。
采標中文名稱:微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定。
相近標準：20173837-T-469 微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定; 微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定; GB/T 36165-2018 金屬平均晶粒度的測定 電子背散射衍射（EBSD）法; 20151737-T-605 金屬平均晶粒度的測定 電子背散射衍射（EBSD）法; GB/T 19501-2004 電子背散射衍射分析方法通則; GB/T 19501-2013 微束分析 電子背散射衍射分析方法通則; 20111322-T-469 微束分析 電子背散射衍射分析方法通則; GB/T 30703-2014 微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導則; 20110888-T-469 微束分析 電子背散射衍射取向分析方法導則; YB/T 4677-2018 鋼中織構的測定 電子背散射衍射（EBSD）法