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GB/T 36613-2018 發光二極管芯片點測方法現行

作者：百檢網時間：2021-05-26

標準號：GB/T 36613-2018
中文標準名稱：發光二*管芯片點測方法
英文標準名稱：Probe test method for light emitting diode chips
標準狀態：現行,發布于2018-09-17; 實施于2019-01-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2018-09-17
實施日期：2019-01-01
中國標準分類號：31.260
國際標準分類號：31.260
歸口單位：工業和信息化部（電子）
執行單位：工業和信息化部（電子）
主管部門：工業和信息化部（電子）
起草單位：三安光電股份有限公司;中國電子技術標準化研究院;廈門市三安光電科技有限公司;廣州賽西標準檢測研究院有限公司
相近標準：20151775-T-339 發光二*管芯片點測方法; 發光二*管芯片點測方法; DB35/T 1370-2013 發光二*管芯片點測方法; DB35/T 1193-2011 半導體發光二*管芯片; SJ/T 11399-2009 半導體發光二*管芯片測試方法; SJ/T 11398-2009 功率半導體發光二*管芯片技術規范; GB/T 36356-2018 功率半導體發光二*管芯片技術規范; 20130009-T-339 功率半導體發光二*管芯片技術規范; GB/T 36357-2018 中功率半導體發光二*管芯片技術規范; 20130011-T-339 中功率半導體發光二*管芯片技術規范

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