標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 4937.18-2018
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第18部分：電離輻照(總劑量)
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2018-09-17; 實(shí)施于2019-01-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2018-09-17
實(shí)施日期：2019-01-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：31.080.01
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：31.080.01
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所;西北核技術(shù)研究所;中國(guó)科學(xué)院新疆理化技術(shù)研究所
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60749-18:2002。
采標(biāo)中文名稱:半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第18部分:電離輻照(總劑量)。
相近標(biāo)準(zhǔn)：20151498-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第18部分：電離輻照(總劑量); 半導(dǎo)體器件-機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法-第18部分:電離輻照(總劑量); GB/T 4937-1995 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法; GB/T 4937.17-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第17部分：中子輻照; 20151499-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第17部分：中子輻照; 半導(dǎo)體器件-機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法-第17部分:中子輻照; 20201539-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第38部分：半導(dǎo)體器件的軟錯(cuò)誤試驗(yàn)方法; 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第38部分：半導(dǎo)體器件的軟錯(cuò)誤試驗(yàn)方法; 20201540-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第10部分：機(jī)械沖擊; 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第10部分：機(jī)械沖擊