標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 4937.13-2018
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第13部分：鹽霧
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2018-09-17; 實(shí)施于2019-01-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：2018-09-17
實(shí)施日期：2019-01-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：31.080.01
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：31.080.01
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所;無錫必創(chuàng)傳感科技有限公司;北京大學(xué)微電子研究院
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60749-13:2002。
采標(biāo)中文名稱:半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第13部分：鹽霧。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4937-1995 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法; 20132215-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第13部分：鹽霧; 20201539-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第38部分：半導(dǎo)體器件的軟錯誤試驗(yàn)方法; 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第38部分：半導(dǎo)體器件的軟錯誤試驗(yàn)方法; 20201540-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第10部分：機(jī)械沖擊; 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第10部分：機(jī)械沖擊; GB/T 4937.21-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第21部分：可焊性; GB/T 4937.1-2006 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第1部分: 總則; 20030194-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第1部分: 總則; 20193134-T-339 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第8部分：密封