標準號：GB/T 36401-2018
中文標準名稱：表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告
英文標準名稱：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis
標準狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于2018-06-07; 實施于2019-05-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發(fā)布日期：2018-06-07
實施日期：2019-05-01
中國標準分類號：71.040.40
國際標準分類號：71.040.40
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
執(zhí)行單位：全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：廈門荷清教育咨詢有限公司;清華大學化學系
采標情況：本標準等同采用ISO國際標準：ISO 13424:2013。
采標中文名稱:表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告。
相近標準：20151802-T-469 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告; 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告; GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南; 20121403-T-469 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南; 20201568-T-469 表面化學分析—電子能譜—X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求; 表面化學分析—電子能譜—X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求; GB/Z 32490-2016 表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序; 20110878-T-469 表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序; GB/T 33502-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜（XPS）數據記錄與報告的規(guī)范要求; 20131697-T-469 表面化學分析 X射線光電子能譜（XPS）數據記錄與報告的規(guī)范要求