標準號：GB/T 27760-2011
中文標準名稱：利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
英文標準名稱：Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps
標準狀態：現行,發布于2011-12-30; 實施于2012-05-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2011-12-30
實施日期：2012-05-01
中國標準分類號：19.020
國際標準分類號：19.020
歸口單位：全國納米技術標準化技術委員會
執行單位：全國納米技術標準化技術委員會
主管部門：中國科學院
起草單位：國家納米科學中心
采標情況：本標準修改采用其他國際標準：ASTM E 2530-2006。
采標中文名稱:利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法。
相近標準：20081451-T-491 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法; 20140894-T-491 納米技術 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法; 表面化學分析 原子力顯微術 用于納米結構測量的原子力顯微鏡探針柄輪廓原位表征程序; GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法; 20078478-T-491 原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法; GB/T 33714-2017 納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術; 20130922-T-491 納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術; GB/T 36969-2018 納米技術 原子力顯微術測定納米薄膜厚度的方法; 20091793-T-491 納米技術 原子力顯微術測定納米薄膜厚度的方法; GB/T 28872-2012 活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法