標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5080.6-1996
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn)
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Equipment reliability testing--Tests for the validity of a constant failure rate assumption
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行,發(fā)布于1996-09-09; 實(shí)施于1997-05-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1996-09-09
實(shí)施日期：1997-05-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：21.020
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：21.020
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品可靠性與維修性標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國電工電子產(chǎn)品可靠性與維修性標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：電子工業(yè)部五所
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB 5080.6-1985
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 605-6:1989。
采標(biāo)中文名稱:。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 5080.7-1986 設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案; 20181779-T-339 可靠性試驗(yàn) 第7部分：恒定失效率和恒定失效強(qiáng)度的驗(yàn)證試驗(yàn); 可靠性試驗(yàn) 第7部分：恒定失效率和恒定失效強(qiáng)度的驗(yàn)證試驗(yàn); GB/T 7289-2017 電學(xué)元器件 可靠性 失效率的基準(zhǔn)條件和失效率轉(zhuǎn)換的應(yīng)力模型; 20204843-T-339 可靠性數(shù)據(jù)分析方法—兩種恒定失效率和兩個(gè)恒定失效密度（事件）的比較程序; 可靠性數(shù)據(jù)分析方法—兩種恒定失效率和兩個(gè)恒定失效密度（事件）的比較程序; GB/T 5080.1-1986 設(shè)備可靠性試驗(yàn) 總要求; GB/T 5080.2-1986 設(shè)備可靠性試驗(yàn) 試驗(yàn)周期設(shè)計(jì)導(dǎo)則; GB/T 5081-1985 電子產(chǎn)品現(xiàn)場工作可靠性、有效性和維修性數(shù)據(jù)收集指南; GB/T 37079-2018 設(shè)備可靠性 可靠性評估方法