標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.7-1995
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品)
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Environmental testing for electric and electronic products--Part 2:Test methods--Test Ec and guidance:Drop and topple (Primarily for equipment-type specimens)
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：被代替,發(fā)布于1995-08-29; 實施于1996-08-01; 被代替于2019-07-02; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1995-08-29
實施日期：1996-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
執(zhí)行單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：中國電器工業(yè)協(xié)會
起草單位：上海電器科研所
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB 2423.7-1981,GB 2424.5-1981
被以下標(biāo)準(zhǔn)代替：被GB/T2423.7-2018GB/T2423.7-2018全部代替
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-31:1982。
采標(biāo)中文名稱:。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 太陽輻射試驗導(dǎo)則; GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊; GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞; GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦); GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落; 20010200-T-339 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 環(huán)境測試 流體污染; GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分:試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度; GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗; GB/T 2423.7-2018 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec:粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）; 20101332-T-469 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec:粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）