標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.44-1995
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg:撞擊 彈簧錘
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Environmental testing for electric and electronic products--Part 2:Test method--Test Eg:Impact，spring hammer
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：廢止,發(fā)布于1995-08-29; 實(shí)施于1996-08-01; 廢止于2004-10-14
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1995-08-29
實(shí)施日期：1996-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位：上海電子儀表標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量測試所
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等效采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 68-2-63:1991。
采標(biāo)中文名稱:。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落; 20010200-T-339 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分: 環(huán)境測試 流體污染; GB/T 2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊; GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞; GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦); GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度; GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射; GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品); GB/T 2423.52-2003 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)77:結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊