標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 2424.15-1992
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Basic enviromental testing procedures for electric and electronic products--Guide for combined temperature/low air pressare tests
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：被代替,發(fā)布于1992-07-01; 實(shí)施于1993-03-01; 被代替于2009-10-01; 廢止
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
發(fā)布日期：1992-07-01
實(shí)施日期：1993-03-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.040
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.040
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
執(zhí)行單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位：航空航天部301所
全部替代標(biāo)準(zhǔn)：GB 2424.15-1981
被以下標(biāo)準(zhǔn)代替：被GB/T2424.15-2008GB/T2424.15-2008全部代替
采標(biāo)情況：本標(biāo)準(zhǔn)等效采用IEC國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-3-2:1976。
采標(biāo)中文名稱:。
相近標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則; 20075855-T-469 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗(yàn); GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗(yàn); GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) M:低氣壓試驗(yàn)方法; GB/T 2424.22-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度(低溫、高溫)和振動(dòng) (正弦) 綜合試驗(yàn)導(dǎo)則; GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法; GB/T 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法; 20010969-T-604 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法