標準號：GB/T 16594-2008
中文標準名稱：微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
英文標準名稱：General rules for measurement of length in micron scale by SEM
標準狀態：現行,發布于2008-09-18; 實施于2009-05-01; 廢止
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
發布日期：2008-09-18
實施日期：2009-05-01
中國標準分類號：71.040.99
國際標準分類號：71.040.99
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
執行單位：全國微束分析標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：上海理工大學;同濟大學;中國船舶重工集團公司第725研究所;上海元寶能源技術有限公司;上海市計量測試技術研究院
全部替代標準：GB/T 16594-1996
相近標準：20062081-T-469 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則; GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法; 20030760-T-469 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則; GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則; GB/T 17722-1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法; GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法; 20111086-T-604 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法; SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法; DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評價方法; GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則