DIN EN 60749-11-2003 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第11部分: 溫度驟變.雙液電鍍槽法
作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-07-14
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第11部分: 溫度驟變.雙液電鍍槽法
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002
標準類型：L40
發(fā)布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：2003/4/1 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
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