DIN EN 60749-9-2003 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第9部分:標(biāo)記耐久性
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2021-07-14
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第9部分:標(biāo)記耐久性
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002
標(biāo)準(zhǔn)類型：L40
發(fā)布日期：1999/12/31 12:00:00
實(shí)施日期：2003/4/1 12:00:00
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：L40
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：31.080.01
適用范圍：The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and verify that the markings on semiconductor devices will not become illegible when subject to solvents or cleaning solutions commonly used during the removal of solder flux residue from the printed circuit board assembly process.
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