標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 26641-2011
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:無損檢測(cè) 磁記憶檢測(cè) 總則
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Non-destructive testing - Magnetic memory testing - General principles
標(biāo)準(zhǔn)類型:方法
實(shí)施日期:20120301
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):J04
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào):19.100
適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)鐵磁性金屬材料、構(gòu)件及焊縫進(jìn)行磁記憶檢測(cè)的一般原則。
奧氏體不銹鋼構(gòu)件和焊縫在一定條件下具有磁性,也可參考本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行磁記憶檢測(cè)。
本標(biāo)準(zhǔn)為有關(guān)具體產(chǎn)品、設(shè)備、材料的磁記憶檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或書面作業(yè)指導(dǎo)書的制定提供指南。除有特殊規(guī)定外,本標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容為*低要求。
歸口單位:全國(guó)無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(TC56)
主管部門:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)(469)
起草單位:中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院、愛德森(廈門)電子有限公司、清華大學(xué)、北京工業(yè)大學(xué)、北京航空材料研究院、北京航空航天大學(xué)、華北電力科學(xué)研究院、上海泰司檢測(cè)科技有限公司、上海材料研究所
起草人:沈功田、胡斌、陳鋼、林俊明、李路明、張亦良
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