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GB/T 19403.1-2003 半導體器件集成電路第11部分:第1篇:半導體集成電路內部目檢 (不包括混合電路) 現行

作者：百檢網時間：2021-07-15

標準號：GB/T 19403.1-2003
中文標準名稱：半導體器件集成電路第11部分:第1篇:半導體集成電路內部目檢 (不包括混合電路)
英文標準名稱：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
標準狀態：現行
發布日期：2003-11-24
實施日期：2004-08-01
中國標準分類號：L56
國際標準分類號：31.200
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會

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