ASTM B878-1997(2009) 電觸點和電連接器用毫微秒事件探測標準試驗方法
作者：百檢網 時間：2021-07-16
中文標準名稱：電觸點和電連接器用毫微秒事件探測標準試驗方法
英文標準名稱：Standard Test Method for Nanosecond Event Detection for Electrical Contacts and Connectors
標準類型：K10
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：K10
國際標準分類號：17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic
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