GB/T 32282-2015 氮化鎵單晶位錯密度的測量 陰極熒光顯微鏡法 現行
作者：百檢網 時間：2021-07-19
中文標準名稱：氮化鎵單晶位錯密度的測量 陰*熒光顯微鏡法
英文標準名稱：Test method for disoclation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy
標準狀態：現行
標準類型：國家標準
發布日期：2015/12/10 12:00:00
實施日期：2016/11/1 12:00:00
中國標準分類號：蘇州納維科技有限公司
國際標準分類號：77.040
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所
起草人：曾雄輝
相近標準：20120269-T-469 ?氮化鎵單晶位錯密度的測量 陰*熒光顯微鏡法;GB/T 8760-2006 ?砷化鎵單晶位錯密度
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