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SJ/T 11394-2009 半導體發光二極管測試方法

作者：百檢網時間：2021-07-20

標準號：SJ/T 11394-2009
中文標準名稱：半導體發光二*管測試方法
英文標準名稱：Measure methods of semiconductor light emitting diodes
標準類型：L41;L45
發布日期：2009/11/17 12:00:00
實施日期：2010/1/1 12:00:00
中國標準分類號：L41;L45
國際標準分類號：31.260
引用標準：GB/T 3977-2001;GB/T 4365-2003;GB/T 5698-2001;GB/T 5702-2003;GB/T 7921-1997;GB/T 7922-2003;GB/T 11499-2001;GB/T 15651-1995;CIE 127-1997;ANSI/ESD STM 5.1-2001;ANSI/ESD STM 5.2-1999
適用范圍：本標準規定了半導體發光二*管（以下簡稱器件）的輻射度學、光度學、色度學、電學、熱學參數以及電磁兼容性的測試方法。本標準適用于可見光、白光半導體發光二*管。紫外發射二*管、紅外發射二*管、半導體發光組件和芯片的測試可參考執行。

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