NF C96-022-30-2005 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第30部分:可靠性試驗之前不氣密的表面安裝器件的預調試
作者：百檢網 時間：2021-07-20
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第30部分:可靠性試驗之前不氣密的表面安裝器件的預調試
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30 : preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.
標準類型：L40
發布日期：2005/6/1 12:00:00
實施日期：2005/6/5 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
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