20141079-T-469 電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法 已發布
作者：百檢網 時間：2021-07-21
中文標準名稱：電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法
英文標準名稱：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
標準狀態：已發布
標準類型：國標計劃
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：江蘇聯瑞新材料股份有限公司
國際標準分類號：31.030
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
起草單位：國家硅材料深加工產品質量監督檢驗中心
起草人：呂福發
相近標準：GB/T 36655-2018 ?電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法;GB/T 32661-2
標準制修訂：制訂
相關標準
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