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DINEN60749-6-2003 半導體器件機械和氣候試驗方法第6部分：高溫儲放

作者：百檢網時間：2021-07-21

標準號：DINEN60749-6-2003
中文標準名稱：半導體器件機械和氣候試驗方法第6部分：高溫儲放
英文標準名稱：Semiconductordevices;Mechanicalandclimatictestmethods;Part6:Storageathightemperature
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
部分代替標準：部分代替DINEN60749-2003

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