KS C 6032-1981 電子元器件失效率試驗通則
作者：百檢網 時間：2021-07-22
中文標準名稱：電子元器件失效率試驗通則
英文標準名稱：General test procedure of failure rate for electronic components
標準類型：L10
發布日期：1981/9/4 12:00:00
實施日期：1981/9/4 12:00:00
中國標準分類號：L10
國際標準分類號：31.020
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