GB/T 36474-2018 半導(dǎo)體集成電路 第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器 (DDR3 SDRAM)測試方法 現(xiàn)行
作者：百檢網(wǎng) 時間：2021-07-29
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路 第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器 (DDR3 SDRAM)測試方法
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布日期：2018/6/7 12:00:00
實施日期：2019/1/1 12:00:00
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：31.200
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
起草人：孔憲偉
相近標(biāo)準(zhǔn)：20154239-T-339 ?半導(dǎo)體集成電路 第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存儲器 (DDR3 SDRAM)測試方法; ?半導(dǎo)
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