標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5170.10-2008
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法.高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products.Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments
標(biāo)準(zhǔn)類型：K04
發(fā)布日期：2008/6/16 12:00:00
實(shí)施日期：2009/3/1 12:00:00
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：K04
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號：19.040
引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.21;GB/T 2423.25;GB/T 5170.2;GB/T 2423.26;GB/T 5170.1-2008;GB/T 16839.1;IEC 60751
適用范圍：GB/T 5170的本部分規(guī)定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.21《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法 》、GB/T 2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》和GB/T 2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。