標準號：GB/T 5170.10-2008
中文標準名稱：電工電子產品環境試驗設備檢驗方法.高低溫低氣壓試驗設備
英文標準名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products.Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments
標準類型：K04
發布日期：2008/6/16 12:00:00
實施日期：2009/3/1 12:00:00
中國標準分類號：K04
國際標準分類號：19.040
引用標準：GB/T 2423.21;GB/T 2423.25;GB/T 5170.2;GB/T 2423.26;GB/T 5170.1-2008;GB/T 16839.1;IEC 60751
適用范圍：GB/T 5170的本部分規定了高低溫低氣壓（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T 2423.21《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M：低氣壓試驗方法 》、GB/T 2423.25《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T 2423.26《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。