IEC 60749-5-2017 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第5部分:穩態溫度濕度偏差耐久性試驗
作者：百檢網 時間：2021-07-31
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第5部分:穩態溫度濕度偏差耐久性試驗
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
引用標準：IEC 60749-4-2017
適用范圍：This part of IEC 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. This test method is considered destructive.
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