標準號:IEC 60748-11-1-1992
中文標準名稱:半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:第1節(jié):半導(dǎo)體集成電路(不包括混合電路)內(nèi)部目檢
英文標準名稱:Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
標準類型:L56
發(fā)布日期:1999/12/31 12:00:00
實施日期:1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號:L56
國際標準分類號:31.200
適用范圍:Purpose of the tests is to check the internal materials, construction and workmanship for compliance with the requirements of the applicable specification. The tests will normally be used prior to capping or encapsulation on a 100 % inspection basis to d
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