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DIN EN 60749-20-1-2009 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第20-1部分:對水分和焊接熱綜合效應敏感的表面安裝設備的處理,包裝,標簽和運輸(IEC 60749-20-1:2009)

作者：百檢網時間：2021-08-03

標準號：DIN EN 60749-20-1-2009
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第20-1部分:對水分和焊接熱綜合效應敏感的表面安裝設備的處理,包裝,標簽和運輸(IEC 60749-20-1:2009),德文版本EN 60749-20
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20-1:2009); German version EN 60749-20-
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：2009/10/1 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
引用標準：IEC 60749-20;IEC 60749-30

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