標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 2423.1-2008
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)A: 低溫
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Environmental testing for electric and electronic products.Part 2:Test methods.Tests A:Cold
標(biāo)準(zhǔn)類型：K04;L04
發(fā)布日期：2008/12/30 12:00:00
實(shí)施日期：2009/10/1 12:00:00
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：K04;L04
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：19.040
引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2421;GB/T 2422;GB/T 2423.22;GB/T 2424.1;GB/T 2424.5;GB/T 2424.7;IEC 60721
適用范圍：GB/T 2423 的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn) Ab 和試驗(yàn) Ad 與早期版本無實(shí)質(zhì)性的差異。增加試驗(yàn) Ae 的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。 本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力 , 在這種情況下 ,應(yīng)采用 GB/T 2423.22 。本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種 :——非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn) :·試驗(yàn) Ab, 溫度漸變。——散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn) :·試驗(yàn) Ad, 溫度漸變 ;·試驗(yàn) Ae, 溫度漸變 , 試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。