QJ 10004-2008 宇航用半導體器件總劑量輻射試驗方法
作者：百檢網 時間：2021-08-04
中文標準名稱：宇航用半導體器件總劑量輻射試驗方法
英文標準名稱：Total dose radiation testing method of semiconductor devices for space applications
標準類型：L40
發布日期：2008/2/16 12:00:00
實施日期：2008/6/1 12:00:00
中國標準分類號：L40
引用標準：GB 4792-1984;GJB 1649-1993;GJB 2712-1996;GJB 3756-1999
適用范圍：本標準規定了采用鈷60γ射線對宇航用半導體器件（以下簡稱器件）進行電離總劑量輻照試驗的一般要求和試驗程序、方法。本標準適用于宇航用半導體器件輻照評估試驗和驗證試驗。
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