標(biāo)準(zhǔn)號:IEC 60759-1983
中文標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)程序
英文標(biāo)準(zhǔn)名稱:Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
標(biāo)準(zhǔn)類型:F81
發(fā)布日期:1999/9/1 12:00:00
實(shí)施日期:1999/12/31 12:00:00
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號:F81
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號:17.240
適用范圍:Such systems consist of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Test procedures for pulse-height analyzers and computers are not covered in this standard. Companion pub
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