IEC 60749-23-2004 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第23部分:高溫操作壽命
作者：百檢網 時間：2021-08-05
中文標準名稱：半導體器件.機械和氣候試驗方法.第23部分:高溫操作壽命
英文標準名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
標準類型：L40
發布日期：1999/12/31 12:00:00
實施日期：1999/12/31 12:00:00
中國標準分類號：L40
國際標準分類號：31.080.01
適用范圍：This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.
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